服务热线：010-61261240

中文

产品中心

PRODUCT CENTER

产品详情

适用范围

适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A 等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

产品特点

灵活配置芯片状态、施加信号，提高HTOL debug及Setup效率

实时监测并记录环境温度，以及每颗芯片电压、电流，寄存器状态等数据

监测数据异常自动报警，实时发现问题并介入分析，大大提高HTOL效率

基本参数

高温箱	自研或广州五所
温度范围	环境温度 - 200℃	温度精度	≤±1℃
温度波动度	±0.4℃	温度均匀度	±3℃
试验区域	16个(一板一区)
器件数量	80位每通道，共1280位(以 LQFP64 为例)
一级电源	四个电压试验区(支持定制）
二级电源	每个通道提供独立程控的 VCC、VMUX、VCLK、VEE 四路二级电源每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能输出能力:±1.00V~±18.00V/10A 电源监测:实时监测记录二级电源的电压。并可生成图形曲线，便于试验监控
数字信号	每个通道:64路数字信号编程能力:编程深度 64Gbit;最高信号频率:10MHz 寻址能力:可寻址 64Gbi 信号特性:每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能驱动能力:IOL>150mA、IOH>150mA、Tr<50ns、Tf<50ns
模拟信号	模拟信号数:4路波形类型:正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波模拟信号指标:信号可编程频率:1Hz~100KHz;程控幅度范围Vpp:0~士10V
上位机	工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
电网要求	380V 50HZ