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产品详情

适用范围

适用于各种功率半导体器件：二极管、三极管、达林顿管、MOSFET 管、IGBT单管、模块、可控硅、桥堆等，进行高温高湿偏压试验

产品特点

实时监测每个试验器件的漏电流。

全过程试验数据保存于硬盘中，可输出 Excel。

试验报表和绘制全过程漏电流IR 变化曲线

基本参数

项目	技术标准
高温高湿箱	自研或广州五所
温度范围	-70℃ - 150℃	降温时间	20℃↓-70℃（≤65min）
温度偏差	±2℃	湿度范围	25%-98%RH
温度均匀度	5℃	湿度偏差	±3%RH，±5%RH
温度波动度	±0.5℃	湿度均匀度	3%RH
升温时间	-70℃↑150℃（≤60min）	湿度波动度	±2%RH
通道数量	16通道（支持定制）
器件数量	80工位每通道，共1280工位（支持定制）
试验电源	100V/200V/600V/1200V/2000V(支持定制）
漏电流检测范围	10nA-50mA
上位机	工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
基本功能	·漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定 ·实时监测显示老化参数(IR、VR、Temp)及老化时间、老化进度 ·实时记录保存老化参数(IR、VR、Temp) ·实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超限时间 ·老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线 ·老化系统为单元模块和整体结构，每个模块可独立运行
电网要求	380V 50HZ