HTRB-高温反偏老炼检测系统

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产品详情

适用范围


适用于各种功率半导体器件:二极管、三极管、达林顿管、MOSFET管、IGBT、可控硅、桥堆等,进行高温反偏(HTRB);



产品特点


实时监测每个试验器件的漏电流。

全过程试验数据保存于硬盘中,可输出 Excel。

试验报表和绘制全过程漏电流IR 变化曲线




基本参数


项目技术标准
高温箱自研或广州五所
温度范围环境温度 - 200℃
温度精度≤±1℃
温度波动度±0.4℃
温度均匀度±3℃
通道数量16通道(支持定制)
器件数量80工位每通道,共1280工位
试验电源100V/200V/600V/1200V/2000V(支持定制)
漏电流检测范围HTRB: 10nA~50mA
上位机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
基本功能·漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定
    ·实时监测显示老化参数(IR、VR、Temp)及老化时间、老化进度
    ·实时记录保存老化参数(IR、VR、Temp)
    ·实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间
    ·老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线
    ·老化系统为单元模块和整体结构,每个模块可独立运行
电网要求380V 50HZ